意大利学者研究发现，与空腹血糖受损（IFG）或负荷后1 h血糖水平较低者相比，负荷后1 h血糖水平较高者发生2型糖尿病（T2DM）的风险更高。（J Clin Endocrinol Metab. 2015年8月14日在线版）

研究者对EUGENE2项目中父母一方有T2DM但自身无糖尿病的595例白人的数据进行了横断面分析，并对CATAMERI研究中基线无糖尿病的392例成人数据进行了纵向分析。

横断面分析中，研究者发现，与糖耐量正常且负荷后1 h血糖水平较低或IFG者相比，糖耐量正常但负荷后1 h血糖水平较高的受试者外周胰岛素敏感性和β细胞功能显著下降。

纵向分析显示，基线糖耐量正常且负荷后1 h血糖水平较低的受试者中，T2DM发生率为2.9%；基线糖耐量正常但负荷后1 h血糖水平较高者中，T2DM发生率达16.7%；IFG及糖耐量受损患者的T2DM发生率分别为12.5%和31.4%。

分析发现，负荷后1 h血糖水平较高组、糖耐量受损组和单纯IFG组发生糖尿病的风险比分别为4.02、6.67和1.91。